表面光电压谱（SPV）通过测量光照引起的表面电势变化，无损地反映半导体材料吸收光子后产生的电荷分离行为。它不破坏样品，是光催化机理表征的常用起点。
SPV可给出样品的带隙、平带位置与电荷分离效率等信息，帮助判断材料"吸光后电荷是否真的分开了"。对光催化，电荷分离效率直接决定活性上限。
在投入大量活性评价前，先用SPV确认材料本征电荷行为，能避免把"活性低"简单归咎于催化剂，而是区分是吸光问题、分离问题还是表面反应问题。
SPV看"材料本征"，活性评价（如PLR-GSPR常压气固相光催化反应系统）看"真实反应"，两者结合才能把机理讲完整。
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通过测量光照引起的表面电势变化，无损反映半导体光生电荷分离行为的经典表征。
带隙、平带位置、电荷分离效率，帮助判断材料吸光后电荷是否真的分开。
在大量活性评价前先确认本征电荷行为，避免误归因。
本文不构成实验性能承诺，具体技术参数以实际产品技术文档及双方确认为准。
