三项硬要求：测试周期内光强漂移小于测量误差、光斑完整覆盖电极、斩光切换不产生过冲。起点通常是 300 W 级氙灯，总光功率 50 W。
光电化学（PEC, Photoelectrochemical）测试里，最像「材料性能」的几条曲线，往往来自光源而不是电极。先认识伪信号长什么样，再谈光源指标，比背参数表有用。
典型情况是：光电流随时间缓慢衰减，被解释为光腐蚀；阶跃响应拖尾，被解释为载流子复合慢；边缘区域响应异常，被解释为薄膜不均匀。这三种现象在光源侧都有对应成因，换一只稳定的灯就能排除一半。
PEC 测的是 μA 到 mA 量级的电流，光强 1% 的波动就足以淹没真实信号。氙灯从冷态到热平衡需要一个爬升过程，这段时间内光强单调上升，如果此时开始扫描，得到的 I-V 曲线会整体偏移。
做法是固定预热时间，并在扫描前后各测一次光强，两次读数差超过测量系统的重复性误差就重测。300 W 级氙灯总光功率 50 W，预热后长时输出相对平稳，但仍建议每个测试日做一次光强基线记录。
另外，电网电压波动会直接反映到光强上。同一台设备在不同时段的读数差异，多数不是灯老化，而是供电环境变化。
光斑必须完整覆盖电极的受光面积，且覆盖范围内功率密度尽量均匀，否则测到的是「最强点」和「平均」之间的某个值，无法比较。工作电极边缘被光斑切到时，边缘的载流子收集效率与中心不同，电流会出现与材料无关的偏移。
判断方法很直接：把光斑调大一圈，让电极完全落在均匀区内部，再测一次。两次结果差异明显，说明之前存在边缘效应；差异很小，说明光斑覆盖已经合格。
平行度差的后果是工作距离一变，光斑尺寸和面功率同时变。PEC 测试中电极位置本来就常因更换样品而变动，所以每次换样后都应重新确认光斑，而不是沿用上一次的位置刻度。
斩光（chopping）用来分离暗电流与光电流，但斩光器本身的开关时间会叠加进响应曲线。机械斩光的边缘不是垂直的，切换过程存在毫秒到数十毫秒的过渡，若材料的响应时间与它接近，测到的就是仪器的时间常数。
| 伪信号 | 观测表现 | 光源侧成因 | 排查动作 |
|---|---|---|---|
| 光电流单调衰减 | 长时扫描尾部下弯 | 灯未热平衡、光强漂移 | 延长预热，扫描前后测光强 |
| 阶跃响应拖尾 | 开光后上升缓慢 | 斩光边缘不陡、采样率不足 | 改用电子调制或提高采样率 |
| 边缘区响应异常 | 换位置电流跳变 | 光斑未覆盖电极或均匀性差 | 光斑放大一圈后复测 |
| 暗电流偏高 | 遮光后仍有电流 | 杂散光、挡光不彻底 | 检查挡光板与暗箱密封 |
表格里的四行，前三行都可以通过「换一只灯」快速验证，第四行则要先排除环境光。测试间的顶灯、显示器、甚至设备的指示灯，都会在遮光不彻底时贡献稳定的暗电流。
PEC 数据要可复现，光源必须以可量化的方式写进实验条件：光谱范围、滤光片型号、到达电极面的功率密度（mW/cm²）、光斑直径、工作距离、预热时长。缺任何一项，别人都无法复现。
面功率要用光功率计在电极平面测，不是在灯口测。标定用的探头面积应小于光斑均匀区，测点至少取中心和四角共五点，取平均值作为记录值，同时记录最大值与最小值的偏差，这个偏差就是后续解释数据离散度的依据。
模拟太阳光测试建议统一到 AM1.5G 条件，滤光片与光强标定的顺序不能颠倒：先装滤光片，再标定，否则标定值包含了后续会被滤掉的波段。
不一定。需要模拟太阳光谱或做全谱响应时用氙灯；只做单波长活性对比时用 LED 更稳，PCX-50C 为 10 W × 9 通道，波长可切换，也便于做作用光谱。
频率应低于材料响应速度、高于暗电流漂移速度，两者之间通常有可用的窗口。若开光与关光的波形不对称，先怀疑斩光器边缘时间，而不是材料本身。
以测量系统自身的重复性为界。同一条件下连续测三次光电流，若三次的离散度与光强漂移量同量级，就无法区分两者，此时必须先稳定光源再测材料。
